Scios 2 DualBeam FIB Doppelstrahlelektroskop

Das Thermo Scientific Scios 2 DualBeam ist ein hochauflösendes Analysesystem, das eine hervorragende Probenbereitung und dreidimensionale Charakterisierung für eine Vielzahl von Probenarten, einschließlich magnetischer und nicht leitender Materialien, bietet. Das Scios 2 DualBeam-System ist für die Optimierung der Probenverarbeitung, der Präzision der Analyse und der Benutzerfreundlichkeit konzipiert und ist die ideale Lösung für Wissenschaftler und Ingenieure, die Forschung und Analysen in akademischen und industriellen Umgebungen durchführen.

Scios 2 DualBeam ermöglicht eine schnelle und einfache Positionierung von hochauflösenden S/TEM-Proben für verschiedene Materialien. Das System ist mit der Software Thermo Scientific Auto Slice&View ausgestattet und ermöglicht die qualitativ hochwertige und vollautomatische Erfassung einer Vielzahl von dreidimensionalen Informationen. Ob es sich um strukturelle Informationen bei 30 kV im STEM-Modus handelt oder um geladene Informationen von der Probenoberfläche bei niedrigerer Energie handelt, das System liefert hervorragende Details im Nanometer-Maßstab unter einer Vielzahl von Arbeitsbedingungen. Scios 2 DualBeam ermöglicht es Anwendern aller Erfahrungsstufen, schnell und einfach qualitativ hochwertige, wiederholbare Ergebnisse zu erzielen. Darüber hinaus ist das System speziell für die anspruchsvollen Anforderungen an die Mikrocharakterisierung von Materialien in der Materialwissenschaft konzipiert und verfügt über eine voll integrierte, extrem schnelle MEMS-Hotstation, die Proben unter nahe realen Arbeitsbedingungen charakterisiert.

Quelle: Hochstabile Shot-Basis-Elektropistole

Auflösung:
☆ Sehr gute Arbeitsdistanz
☆ 30 keV下 STEM 0,8 nm
☆ 1 keV下1.6 nm
☆ Elektronenstrahlverlangsamung bei 1 keV 1,4 nm

Elektronenstrahlparameter:
Sondenstrombereich: 1 pA bis 400 nA
Beschleunigungsspannungsbereich: 200 V bis 30 kV
Landespannungsbereich: 20 eV bis 30 keV
Große horizontale Sichtfeldbreite: 3 mm bei 7 mm WD und 7,0 nm bei 60 mm WD
☆ Navigationsmontage-Funktion für zusätzliche Sichtfeldbreite

Ionenoptik:
Sidewinder Ionenspiegel
Beschleunigungsspannungsbereich: 500 V bis 30 kV
Ionenströmbereich: 1,5 pA bis 65 nA
15 Lichtlöcher
Standardmodus zur Driftunterdrückung von nicht leitenden Proben
Lebensdauer der Ionenquelle mindestens 1000 Stunden
Ionenstrahlauflösung 3,0 nm bei 30 kV

Probenraum:
☆ Elektronenstrahl- und Ionenstrahlverbindungspunkte im Analysearbeitsabstand (SEM 7 mm)
Ports: 21
Innenbreite: 379 mm

Probentasch: Flexible fünfachsige elektrische Probentasch
XY-Bereich: 110 mm
Z-Bereich: 65 mm
Drehung: 360° kontinuierlich
☆ Neigung: -15 ° ~ + 90 °
XY-Wiederholungsgenauigkeit: 3 μm
☆ Zui große Probengröße, Durchmesser 110 mm, kann vollständig entlang der X- und Y-Achse gedreht werden
☆ Zui große Probenhöhe mit einem Abstand von 85 mm
☆ Zui Große Probe Gewicht 5 kg (einschließlich Probenbehälter)
☆ Konzentrische Drehung und Neigung

Probenpack:
☆ Standard-Multifunktions-Probenhalter, der auf einzigartige Weise direkt auf den Probenstisch montiert wird, bietet Platz für 18 Standard-Probenhalter (φ12mm), 3 Vorgeneigte Probenhalter, 2 vertikale und 2 Vorgeneigte Seitenhalter (38 ° und 90 °), ohne Werkzeug für die Probenmontage
☆ 6 S/TEM Kupfernetze auf jedem optionalen Messträger
☆ Verschiedene Chips und maßgeschneiderte Proben sind auf Anfrage erhältlich (optional)
Detektorsystem: bis zu vier Signale können synchron erkannt werden
☆ Probenraum Sekundärelektronischer Detektor ETD
☆ Elektronendetektor zur Rückstreuung im Spiegel T1
☆ Binnenspegeldetektor T2
☆ Binärelektronischer Detektor T3 (optional)
☆ IR-CCD Infrarotkamera (Beobachtung der Höhe der Probentasche)
Bild Navigation Farb optische Kamera Nav-Cam+ ™
☆ Hochleistungs-Ionenumwandlung und Elektronendetektor ICE
☆ Ausziehbarer Niedrigspannungs-, Hochfutter- und Splitting-Solid-State-Rückstreuungsdetektor DBS
☆ Elektronische Strahlmessung

Steuerungssystem:
64-Bit-Betriebssystem, Tastatur, optische Maus
☆ Bildanzeige: 24-Zoll-LCD-Monitor, hohe Bildauflösung 1920 x 1200
☆ Unterstützt benutzerdefinierte GUI, kann vier Bilder gleichzeitig in Echtzeit anzeigen
☆ Unterstützung der lokalen Sprache
Multifunktions-Bedienplatte mit Joystick (optional)

Eigenschaften und Anwendungen:
☆ Schnelle und einfache Vorbereitung von qualitativ hochwertigen, positionierenden TEM- und Atomsonde-Proben mit dem Sidewinder HT Ionenspiegel;
☆ Thermo Scientific NICol Elektronische Brille für hochauflösende Bildgebung, um die Bildgebungsanforderungen einer Vielzahl von Probenarten zu erfüllen;
☆ verschiedene Arten von integrierten Spiegel- und Polarstiefel-Detektoren, um qualitativ hochwertige, scharfe und unladene Bilder zu erfassen, um vollständige Probeninformationen zu liefern;
Optionale ASV4-Software zur genauen Positionierung der Interessengebiete und zum Erhalt von qualitativ hochwertigen, multimodalen internen und dreidimensionalen Informationen;
Hochflexibler 110 mm Probenstand und eingebaute Thermo Scientific Nav-Cam Kamera für eine präzise Probennavigation;
Spezielle DCFI-Drift-Unterdrückungstechnik und Modi wie Thermo Scientific SmartScan ermöglichen eine falsche Bildgebung und Grafikverarbeitung;
Flexible DualBeam-Konfiguration zur Optimierung der Lösung für spezifische Anwendungsanforderungen.