Scan-Elektroskop in-situ-Stretcher-Serie MICROTEST

Marke: Gatan Modell: MICROTEST Serie

Hersteller: Gatan, USA Händler: Opel Co., Ltd.

Scan-Elektroskop-in-situ-Stretcher ist ein dynamisches Mittel zur Beobachtung und Analyse der mikroskopischen Verformungs- und Bruchmechanismus von Materialien, das in der Materialwissenschaftliche Forschung eine wichtige Rolle spielt.

Die MICROTEST-Serie von GATAN ermöglicht Dehnungsprüfungen für viele Materialien, wie z. B. Metallmaterialien (Studie des Verfestigungsprozesses, spannungsinduzierter Phasenwechsel und plastischer Verformung usw.), Polymerenmaterialien usw. In-situ-Bildgebung der morphologischen Veränderungen der Mikrostruktur durch Scan-Elektroskop, um die Ursachen der morphologischen Veränderungen zu verstehen und den Moment der Veränderung zu bilden. Die Kombination von Informationen über dynamische Experimente kann die Unsicherheit der Interpretation der herkömmlichen Stress / Spannungsdaten überwinden. Für Dehn-, Extrusions- und Biegeprüfungen bieten wir eine Vielzahl von Geräten mit Lastbereichen von 2N bis 5000N.

MICROTEST In-situ-Stretcher ist speziell für SEM konzipiert und ist in vier Versionen verfügbar: 200N, 300N, 2KN und 5KN

Technische Merkmale der MICROTEST-Reihe:

Großer Lastbereich: 200N, 300N, 2000N und 5000N

Austauschbarer Gewichtssensor mit einer Reichweite von bis zu 2N

Dehnungsgeschwindigkeit: 5 μm/min bis 6 mm/min

Optionales 3- und 4-Punkt-horizontales Biegezubehör

EBSD-Beispielzubehör

Maßgeschneiderte Klemmen für Heizung und Wasserkühlung

Eine einfache Software-Benutzeroberfläche bietet quantitative Datenkurven in Echtzeit, die in Kombination mit flexiblen Ventilwerten komplexe Experimente einschließlich der Kreislast ermöglichen.

Unterstützt die synchronisierte Bild- und Datenerfassung. Eine detaillierte Analyse des Probenwechselprozesses kann durch Auswirkungen durchgeführt werden.

MICROTEST 200 Reihe

Dynamischer Teststand, der sowohl innerhalb als auch außerhalb des SEM betrieben werden kann. Mit einer hohen Belastung von 200 N können Sie Zug- und Extrusionsvorgänge durchführen und können 3 oder 4 Punkte in horizontaler Richtung biegen. MICROTEST 200B ermöglicht eine vertikale Dreipunktbiegung.

Stretchtisch der Serie MICROTEST 300

Dynamischer Teststand, der sowohl innerhalb als auch außerhalb des SEM betrieben werden kann. Mit einer hohen Belastung von 300 N kann der Zug- und Extrusionsbetrieb durchgeführt werden und kann 3 oder 4 Punkte in horizontaler Richtung gebogen werden. MICROTEST 300B ermöglicht eine vertikale Dreipunktbiegung.

MTEST2000-Reihe

Die Module MTEST2000 und MTEST2000E können sowohl innerhalb als auch außerhalb des Scanelektroskops (SEM) mit einer hohen Belastung von 2000N verwendet werden. Der MTEST2000 kann im Zug- oder Kompressionsmodus gearbeitet werden und ist optional mit einer horizontalen Biegefestigung erhältlich. Der MTEST2000B ist für vertikale 3-/4-Punkt-Biegungen konzipiert. Der MTEST2000E ist für die Konfiguration von Scan-Elektroskopfforschungen mit EBSD konzipiert (MICROTEST 2000ES in Raumtemperatur, MICROTEST 2000EW in Wasserkühlung ist die Grundkonfiguration der Heizverrichtung, EH 2000 ist optional als Zugprüfung bei Heizung möglich).

Stretchtisch der Serie MTEST5000

Das MTEST5000 ist ein dynamisches Probentestmodul mit hoher Last (5000N), das im Zug- oder Kompressionsmodus funktionieren kann und für Zug- und Extrusionsbetriebe mit 3 oder 4 Punkten Biegung in horizontaler Richtung geeignet ist. (MICROTEST 5000S für Raumtemperatur und MICROTEST 5000W für Wasserkühlung ist die Grundkonfiguration der Heizungsklammern und kann optional mit dem H5000 zur Zugprüfung bei gleichzeitiger Heizung oder Kühlung verwendet werden)