STI5000C Leistungsger?t IV Charakteristikkurvenanalyser

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Die I-V-Kurve (Standard-Eigenschaftskurve) für die Erfolgsquote-Ger?te wird automatisch generiert. Es gibt eine breite Anwendung in der Fehleranalyse. Der neue Name ist der STI5000C Curve Tracker. Diese Produktkurve ist derzeit in zahlreichen fünf Forschungs- und Entwicklungslaboren, Eingangsprüfzentren sowie in den Laboren der gro?en Forschungseinrichtungen und Universit?ten eingesetzt worden, die für ihre genaue und schnelle Reaktionskraft bekannt sind. Die derzeit verwendete 16-Bit-Modellkonvertierung verbessert die Aufl?sung noch mehr, und die Aufl?sung von RDSON ist auf Mikro-Euro-Ebene. Der neue Name ist der STI5000C Curve Tracker. Diese Produktkurve ist derzeit in vielen fünf Unternehmen

Produktdetails

STI-CURVE TRACE SoftwareIn Kombination mit dem ST5000-Testhost wird eine I-V-Kurve (Standard-Eigenschaftskurve) für die Erfolgsrate des Geräts automatisch generiert. Es gibt eine breite Anwendung in der Fehleranalyse. Der neue Name ist der STI5000C Curve Tracker. Diese Produktkurve ist derzeit in zahlreichen fünf Forschungs- und Entwicklungslaboren, Eingangsprüfzentren sowie in den Laboren der großen Forschungseinrichtungen und Universitäten eingesetzt worden, die für ihre genaue und schnelle Reaktionskraft bekannt sind. Die derzeit verwendete 16-Bit-Modellkonvertierung verbessert die Auflösung noch mehr, und die Auflösung von RDSON ist auf Mikro-Euro-Ebene.

Standardeigenschaften:
Mosfet (N-Kanal und P-Kanal)
ID vs. VDS im Bereich von VGS
ID vs. VGS bei festem VDS
IS vs. VSD
RDS vs. VGS bei fester ID
RDS vs. ID bei mehreren VGS
IDSS vs. VDS
Transistor (NPN & PNP)
HFE vs. IC
BVCE(O,S,R,V) vs. IC
BVEBO gegen IE
BVCBO gegen IC
VCE(SAT) vs. IC
VBE(SAT) vs. IC
VBE(ON) vs. IC (VBE-Test verwenden)
VCE(SAT) vs. IB in einem Bereich von IC
VF vs. IF

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