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Shanghai Pudong New District Caolu Town Jinhai Road Baolong Platz Phase II
Shanghai Yangqi Prüfgeräte Co., Ltd.
xy@shyrjc.com
18621740419
Shanghai Pudong New District Caolu Town Jinhai Road Baolong Platz Phase II
1. Instrumenteinführung
YJ-230 reflektierendes Metallphasemikroskop verwendet ein ausgezeichnetes optisches System und ein modulares Funktionsdesignkonzept, das Polarisationsbeobachtung, offenes Feldbeobsichtigung und andere Funktionen nach dem Upgrade des Systems erreichen kann. Das kompakte und stabile integrierte Körperdesign spiegelt die Anforderungen an die Betriebsstabilität des Mikroskops vollständig wider. Das idealisierte Design des Instruments macht die Bedienung einfacher und den Raum größer. Die Mikrobeobachtung für die Metallophasenanalyse und die Oberflächenmormologie ist das ideale Instrument für die Metallologie, Mineralogie und Polymermaterialienforschung. Geeignet für alle Arten von Elektronikverarbeitung Gießindustrie zur Beobachtung von Lichtdurchlässigen und nicht-Lichtdurchlässigen Substanzen, wie Metalle, Keramik, integrierte Blöcke, Leiterplatten, Flüssigkristallplatten, Folien, Fasern, Beschichtungen und andere verschiedene Materialien, auch für die Beobachtung und Analyse von Agrarforstwirtschaft und Fischerei und Forschung.
Leistungsmerkmale
▲ Konfigurieren Sie eine große Sichtfeldbrille und einen langen Arbeitsabstand Flachfeld-Farbdifferenz-Objektiv (ohne Abdeckschiene), das Sichtfeld ist groß und klar.
▲ Coaxial Fokussierung Grob-Finisher-Mechanismus, frei einstellbarer Grob-Fokus, mit Limit- und Verriegelungseinrichtung, Mikro-Motivwert: 2 μm.
▲ Konfiguration von reflektierenden und durchlässigen Beleuchtungssystemen zur mikroskopischen Bildbeobachtung von nicht durchlässigen oder durchlässigen Objekten.
Halogenlampe (6V, 20W), Helligkeit einstellbar.
▲ Drei-Augen-Beobachtungskammer, kann freie polarisierte Beobachtung und normale Beobachtung wechseln, kann 100% Lichtdurchlässigkeit fotografieren.
2. Parameterkonfiguration
Gerätekonfiguration | |||
Modellnummer |
YJ-230 |
DYJ-230A |
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Brille |
Großes Sichtfeld WF10X (Anzahl der Sichtfelder Φ18mm) |
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Objektive (ohne Deckel) |
Langstreckenflächendämpfungsobjektiv PL 5X/0.12 |
Langstreckenflächendämpfungsobjektiv PL 5X/0.12 |
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Langstreckenflächendämpfungsobjektiv PL L10X/0.25 |
Langstreckenflächendämpfungsobjektiv PL L10X/0.25 |
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Langstreckenflächendämpfungsobjektiv PL L40X/0.60 |
Langstreckenflächendämpfungsobjektiv PL L40X/0.60 |
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Langstreckenflächendämpfungsobjektiv PL L60X/0,75 (Feder) |
Langstreckenflächendämpfungsobjektiv PL L60X/0,75 (Feder) |
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Langstreckenflächendämpfungsobjektiv PL L 100X/0,85 (Feder) |
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Laststelle |
Doppelschicht mechanisch bewegbar (Größe: 185mmX140mm, Bewegungsbereich: 75mmX50mm) |
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Konverter |
Vier Löcher (innere Position der Kugel) |
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Durchlässige Beleuchtung System |
6V20W Halogenlampe mit verstellbarer Helligkeit |
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Abbe Fokus NA.1.25 kann aufsteigen und abfallen | |||
Mit Glas und blauem Filter | |||
Brille |
Triokular, 30°-Neigung, (eingebaute Inspektionspolarisierung, schaltbar) |
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Fokussierungsorgane |
coaxial coaxial adjustment, Micro-Grid-Wert: 2 μm, verstellbar, mit Verriegelung und Positionsbegrenzung |
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Schimmelschutz |
Besonderes Schimmelschutzsystem |
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Zubehör auswählen |
Objektive |
Langstreckenflächendämpfungsobjektiv PL L 50X/0,70 |
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Langstreckenflächendämpfungsobjektiv PL L 80X/0.80 | |||
Brille |
Großer Sichtfeld WF16X (Φ11mm) |
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Aufteilung 10X (Φ18mm) Gitterwert 0,1mm / Gitter | |||
Software |
Spezielle Software für die Analyse von Kimphase Chart Ratings |
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Metallographische Bildmessanalyse-Software | |||
Computer-Typ |
1. Metallphasemikroskop 2. Anpassungsspiegel 3. Kamera (CMOS) 4. Computer (optional) |
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Digitaler Typ |
1. Metallphasemikroskop 2. Anpassungsspiegel 3. Digitalkamera (optional) |
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