Dynamische Testmaschine

VerhandlungsfähigAktualisieren am04/23

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Die ITC57300 ist eine renommierte Testmaschine für dynamische Parameter wie Mosfet, IGBT, Bipolar Device, Diode und andere, um Widerstands-/Sensitivschaltzeiten, Schaltverluste, Gate-Ladungen, Trr/Qrr-Gate-?quivalentwiderst?nde und andere Tests zu testen und zu analysieren. In der Halbleiterindustrie gibt es viele Kunden.

Produktdetails

Übersicht

Testsystem für dynamische Parameter ITC57300Der Host kann mit unterschiedlichen Testköpfen nicht zerstörerische Tests von Halbleitergeräten wie MOSFTs, IGBTs, Dioden und anderen bipolaren Geräten durchführen (zusätzliche Versorgungsversorgung und maßgeschneiderte Charts sind erforderlich). Der Host enthält alle erforderlichen Tester und Software zum Testen und Analysieren von Widerstands-/sensorischen Schaltzeiten, Schaltverlusten,elektrische Ladung,Trr / QrrUnd andere.Test。

Jeder Testkopf ist zwar unterschiedlich gestaltet, kann aber schnell und einfach auf dem Host platziert werden. Jeder Testkopf ist zwar für die Prüfung eines bestimmten Parameters konzipiert, aber seine kombinierte Personalitätsplatte kann den Testkopf für verschiedene Gerätekategorien, Verpackungsmodelle und Geräteskreise usw. neu montieren.

Funktion

·Prüfspannung: Max1200V Vdc, 200A (KurzschlussprüfungISCmax:1000A)

·Zeitmessung: Min1ns

·Leckstromgrenzüberwachung

Bestehender Testkopf

ITC57210 -Leistungsgeräte MOSFETs,PSchaltzeitprüfung mit N-KanalKopf，SchönheitMIL-STD-750, Methode 3472.

ITC57220 -Leistungsgeräte MOSFETsund DiodenUmkehr WiederherstellungTrr / QrrTestkopf,SchönheitMIL-STD-750, Methode 3473.

ITC57230 -Leistungsgeräte MOSFETsLadungsprüfkopf,SchönheitMIL-STD-750, Methode 3471.

ITC57240 - IGBT Sensorischer Lastschalter Zeit Testkopf,SchönheitMIL-STD-750, Methode 3477.

ITC57250 -KurzschlüsseStromToleranzprüfkopf,SchönheitMIL-STD-750, Methode 3479.

ITC57260 -Kondensator-/Gate-Äquivalentwiderstandsprüfkopf,Standard JEDEC Standard JESD24-11

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